|
웨이퍼 한 장에 설계된 반도체 중 정상 반도체 칩이 많을수록 수율이 높다고 합니다. 클린룸의 청정도나 공정 장비의 정확도, 공정조건 등 여러 사항이 뒷받침돼야 이뤄질 수 있습니다. 특히 정상인지 불량인지 가려내기 위해서는 반도체 제조과정에서 진행되는 테스트를 통과해야 합니다.
웨이퍼 단계에서 검사하는 웨이퍼 테스트, 조립 공정을 거쳐 패키지한 상태에서 이뤄지는 패키징 테스트, 출하되기 전 소비자 관점에서 시행되는 품질 테스트 등이 있습니다.
먼저 웨이퍼 테스트는 EDS 공정이라고도 하는데요. 전기적 특성검사를 통해 웨이퍼 상태에서 각각의 칩들이 원하는 품질 수준에 도달하는지 검사하는 겁니다. 총 5단계로 나눠서 살펴보겠습니다.
1차 테스트는 웨이퍼의 전기적 특성이 적합한지 판단하기 위해 130여 개의 항목을 적용해 검사합니다. 개별소자들인 트랜지스터, 저항, 캐패시터, 다이오드 등 전기적 직류전압, 전류특성의 파라미터를 테스트해 작동 여부를 판별합니다. 반도체 칩으로 행하는 첫 테스트 공정이라고 보면 됩니다.
4차 테스트에서는 3차 테스트에서 수리 가능한 칩들을 모아 레이저 빔을 이용해 수선합니다. 가장 중요한 공정이라고 할 수 있는데요. 원래는 불량 셀이 생기면 다른 셀과 연결된 퓨즈를 레이저로 끊어줬습니다. 그러나 최근에는 퓨즈를 레이저로 끊기 어려울 만큼 회로가 미세해지고 셀 간격이 좁아지고 있어 셀을 직접 전압으로 끊어주는 기술을 사용하고 있습니다.
마지막 5차 테스트는 보완 성공 여부를 판별하는 것입니다. 그러면서 불량 칩에 특수 잉크를 찍어 육안으로도 불량 칩을 식별할 수 있게 만듭니다. 이것을 잉킹(Inking)과정이라고 하는데요. 이 과정을 거치고 나면 조립 과정에서 잉크가 찍힌 불량 칩에 대해서는 조립을 진행하지 않아도 돼 원부자재나 설비, 시간, 인원 등의 손실 절감 효과를 볼 수 있습니다.
|
이렇게 거듭 고온 테스트를 거치는 이유는 실생활에서 전자 기기를 장시간 사용하면 반도체 비롯한 기기 내부 부품이 과열되기 때문입니다. 이 환경에서도 제대로 작동해야 하기 때문이죠. 그리고 고온뿐만 아니라 영하 40℃의 극저온 상태에서도 정상 작동 여부를 확인하는 테스트를 합니다. 북극이나 남극도 전자기기를 사용하니까요.
이제 스피드 테스트를 진행합니다. 반도체가 제품 스펙에 맞는 속도를 나타내는지 확인하기 위해서입니다. 그 밖에도 반도체 내부회로에 구조적 결함이 없는데 반도체 동작 시 발생하는 신호와 동작 타이밍은 적절한지, 셀에 데이터를 읽고 쓰는 데 문제가 없는지 등을 테스트합니다.
마지막으로 패키지 외부 비주얼 테스트와 최종 패킹을 거쳐 반도체가 완성됩니다. 패키지 테스트까지 완료된 반도체는 고유이름을 갖게 됩니다. △IC의 명칭 △제조일 △제품의 특성 △제조 국가 △일련번호 등 제품에 대한 이력을 써주는 것이죠.
어떠신가요. 반도체가 우리 생활에 들어오기까지 이렇게 복잡하고 세밀한 많은 공정을 거치고 있습니다. 반도체가 성능만 중요한 게 아니라 고성능이 나오려면 이만큼이나 힘든 과정을 이겨내야 했군요.